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失效分析與可靠性測(cè)試
華天科技采用先進(jìn)設(shè)備,為客戶提供系統(tǒng)的可靠性測(cè)試及失效分析。
對(duì)封裝產(chǎn)品進(jìn)行MSL/THT(溫濕度儲(chǔ)存)、PCT(高溫蒸煮)、HTST(高溫儲(chǔ)存)、HAST(強(qiáng)加速應(yīng)力試驗(yàn))、TCT(溫度循環(huán))、Solderability(可焊性)等六大類性能進(jìn)行測(cè)試。
同時(shí),針對(duì)封裝測(cè)試中的問(wèn)題,充分利用SAT、DECAP、X-RAY等10項(xiàng)FA技術(shù),確定失效原因,以便采取有效的糾正措施,增強(qiáng)產(chǎn)品可靠性,保障產(chǎn)品質(zhì)量。
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Laser De-cap
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SEM
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Probe test
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SAT
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3D X-RAY
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lon Milling System
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THT/MSL
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TCT
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BHAST